Optische Mikroskopie/ SEM

Optische Mikroskopie/ SEM

Light Microscopy SEM

ZEISS Systeme analysieren Partikel auf Ihren Filtern und liefern Ihnen Informationen über die chemische Zusammensetzung des Materials. Verwenden Sie ein Elektronenmikroskop und SmartPI, um Ihre Analyse für bis zu 200.000 Partikel vollständig zu automatisieren. Das korrelative Partikelanalysesystem ist die optimale Lösung für die Verbindung von licht- und elektronenmikroskopischen Analysen. Natürlich unterstützt das System ISO 16232 und VDA 19.

Durch das breite Portfolio von Carl Zeiss mit Licht- sowie Elektronenmikroskopen ergeben sich hervorragende Möglichkeiten zur korrelativen Mikroskopie: die Verknüpfung von Informationen aus den beiden komplementären Abbildungsmechanismen. 

Mit "Shuttle&Find" hat Zeiss eine Plattform geschaffen, die verschiedenste Geräte mit einer einheitlichen Softwareplattform und Probenhalter miteinander verbindet.