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20.01.2026 / 09:00

Oxford Instruments / Analyse

How to achieve WDS Data Quality with a Modern EDS Detector

Die Grenzen zwischen EDS und WDS verschwimmen zunehmend: Moderne Technologien ermöglichen heute auch komplexe Analysen zuverlässig mit EDS. Selbst anspruchsvolle Aufgaben wie Peak-Überlagerungen oder Spurenelementanalysen lassen sich schnell, vielseitig und benutzerfreundlich lösen.
Sehen Sie sich das Webinar unseres Partners Oxford Instruments an und erfahren Sie mehr.

Webinar Recording

Zeiss / Mikroskopie

Röntgenmikroskopie und Fortschritte in der Materialwissenschaft

Die Röntgenmikroskopie ist eine zentrale Methode der Materialwissenschaft und ermöglicht zerstörungsfreie 3D-Einblicke in Mikrostrukturen. So lassen sich Veränderungen durch Verarbeitung, Belastung oder Umwelteinflüsse sichtbar machen.
Das Webinar zeigt aktuelle technologische Fortschritte sowie praxisnahe Anwendungsbeispiele.

Zeiss / Mikroskopie

CECCI: TEM-ähnliche Defektbildgebung mit dem SEM

Einführung in die ZEISS Gemini-REM-Technologie und die Methode der kontrollierten Elektronenkanalisierungskontrastbildgebung (cECCI). Lernen Sie, wie sich Versetzungen und Stapelfehler in Volumenproben sichtbar machen lassen und welche physikalischen Prinzipien dahinterstehen. Erfahren Sie zudem den optimalen Workflow – von den richtigen Strahlbedingungen bis zur kristallographischen Analyse – sowie die Vorteile gegenüber TEM, insbesondere bei Probenvorbereitung und In-situ-Untersuchungen.

Zeiss / Mikroskopie

3D-Röntgenmikroskopie

Erfahren Sie, wie moderne Röntgenmikroskopie die zerstörungsfreie 3D-Bildgebung ins Labor bringt und neue Einblicke in Materialstrukturen ermöglicht. Entdecken Sie, wie KI, leistungsstarke Hardware und integrierte Workflows die Analyse beschleunigen und korrelative Mikroskopie erleichtern. Praxisbeispiele zeigen, wie ein ganzheitliches 3D-Ökosystem Forschung effizienter und intuitiver macht.

Oxford Instruments / Analyse

BEX-Technik im Rasterelektronenmikroskop

Entdecken Sie die neue BEX-Technologie für die Elementanalyse im REM, die durch hohe Sensitivität, Geschwindigkeit und einzigartige Geometrie neue Maßstäbe setzt. Erleben Sie Live-Demos und praxisnahe Anwendungen – von Bruchflächenanalyse bis zur Detektion kleinster Konzentrationsunterschiede (<1 wt%) und Sub-10-nm-Strukturen. Lernen Sie die Grundlagen, Vorteile und das Potenzial des Unity BEX Detektors kennen.

Zeiss / Mikroskopie

3D Röntgenmikroskopie in der Halbleiteranwendungen

Erfahren Sie, wie moderne ZEISS Mikroskopielösungen die Fehleranalyse in Halbleitergehäusen der nächsten Generation verbessern. Lernen Sie aktuelle Fortschritte in der 3D-Röntgenmikroskopie (XRM), KI-gestützte Rekonstruktion und korrelative Workflows kennen, die höhere Auflösung, schnellere Scans und präzisere Fehlerlokalisierung ermöglichen.