CECCI: TEM-ähnliche Defektbildgebung mit dem SEM

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Dauer: 60 mins  I  Sprache: Englisch  I  Gebiet: xxxx

• Einführung in die ZEISS Gemini-Säulenelektronenmikroskopie
  Wie man ausgedehnte Kristallgitterfehler wie Versetzungen und Stapelfehler beobachtet.
• Das Grundprinzip der Kontrastbildung und wie Elektronen in ein Kristallgitter eindringen, wenn der einfallende Strahl das Gitter entlang des Bragg-Winkels trifft.
• Was für einen methodischen Arbeitsablauf erforderlich ist, der ein geeignetes Rasterelektronenmikroskop mit optimalen Strahlbedingungen in Verbindung mit einer hochentwickelten kristallographischen Analysesoftware umfasst.

Entdecken Sie in diesem bevorstehenden Webinar einen neuen Ansatz zur Charakterisierung von Versetzungen in Volumenproben mithilfe eines Rasterelektronenmikroskops (REM). Erfahren Sie, wie sich kristallographische Defekte in polykristallinen Materialien mithilfe der kontrollierten Elektronenkanalisierungskontrastbildgebung (cECCI) im REM sichtbar machen lassen. Seien Sie dabei, wenn wir das Potenzial von cECCI aufzeigen und erläutern, wie sich damit ausgedehnte Kristallgitterdefekte wie Versetzungen und Stapelfehler beobachten lassen. Die Methode nutzt die Abhängigkeit der Intensität der rückgestreuten Elektronen von der Kristallorientierung und der atomaren Ordnung.

Hören Sie einem Pionier der Materialwissenschaft zu und lernen Sie die Grundprinzipien des Elektronenkanalisierungskontrasts kennen, erfahren Sie, wie wichtig es ist, die perfekten Bildgebungsbedingungen zu bestimmen, und wie jeder Defekt, der die Ordnung der Gitterebenen stört, sichtbar gemacht wird. Lernen Sie, wie Sie die Herausforderungen der geringen Kontrastintensität bei ECCI meistern und den erforderlichen kontrollierten Arbeitsablauf für optimale Ergebnisse beherrschen.

Die Methode erfordert ein REM mit optimalen Strahlbedingungen und einer hochentwickelten kristallographischen Analysesoftware. Die Vorteile gegenüber dem TEM (Transmissionselektronenmikroskop) bestehen darin, dass Sie nicht mehr auf dünne Schichten beschränkt sind, da Sie nun Volumenproben untersuchen können. Dies ermöglicht Ihnen eine vereinfachte Probenvorbereitung, erleichtert In-situ-Experimente und bietet Zugang zu einer echten Probenrepräsentativität.

Verpassen Sie nicht diese Gelegenheit, Ihr Verständnis der Grundprinzipien der cECCI mithilfe eines ZEISS-Feldemissions-Rasterelektronenmikroskops mit Gemini-Elektronenoptik und der TOCA-Software (Tools for Orientation Determination and Crystallographic Analysis) zu vertiefen.

Hier gehts zum webinar recording

Sprecher: Dr. Stefan Zaefferer

Physicist and Developer of the software TOCA (Tools for orientation determination and crystallographic analysis)

Dr. Zaefferer studierte Materialwissenschaften und Elektronenmikroskopie an der TU Clausthal und promovierte mit einer Arbeit über die Untersuchung von Texturen und Mikrostrukturen in Titanlegierungen mittels Transmissionselektronenmikroskopie. Nach Postdoc-Aufenthalten im Ausland trat er dem Max-Planck-Institut für Eisenforschung bei und wurde Leiter der Gruppe „Mikroskopie und Beugung“. Seit 2010 ist er zudem Dozent an der RWTH Aachen. Sein jüngstes Werk ist die dritte Auflage von „Introduction to Texture Analysis“ von Engler, Zaefferer und Randle.

Sprecher: Dr. Antonio Casares

ZEISS Research Microscopy Solutions

Dr. Antonio Casares ist Vertriebs- und Anwendungsspezialist bei ZEISS Research Microscopy Solutions in Deutschland. Er ist Experte für Elektronenmikroskopie und Röntgenmikroskopie und verfügt über mehr als 25 Jahre Erfahrung in der Entwicklung und dem Bau von Massenspektrometern und Elektronenmikroskopen sowie über fundierte Anwendungskenntnisse dieser Verfahren.